钽电容失效原因：因素：容量、温度和浪涌

钽电容是市场上使用非常广泛的电容器之一（也有人笔误会写成胆电容，其读音是dan 而不是tan），是容易产生失效的元器件，相对陶瓷贴片电容显得有些娇贵。以下三种因素：容量、温度和浪涌可能导致其功能失效。具体失效原因，kemet钽电容、avx钽电容和振华新云等品牌授权分销商南京南山半导体的技术部同事给出了以下几点分析：

早期的钽电容的实效主要是由两个因素造成的：

A.极性接反引起的击穿失效----多在研发阶段由于设计和测试不当引起，所以禁止使用万用表电阻档对钽电容器电路或其本身进行不分极性的电阻测试。

B.一种较为隐蔽的失效----常在工作时出现，其原因是由于焊接温度过高，焊接持续时间过长，导致钽电容器内部氧化膜受伤，造成漏电流大和短路失效。

 生产和和使用中钽电容（你也读成胆电容么？^^）失效经验谈：

容量较大的钽电容器比容量较小的钽电容器更容易失效。

钽电容器失效多发生在固定的位置，或固定的电路中，譬如电源滤波电路中。

电源滤波电路中第一个钽电容器最容易失效。

在测试时的通电瞬间钽电容器最容易失效。

老化过程中容易失效。

散热较差区域的钽电容器更容易失效。

浪涌情况下钽电容器更容易失效。

总结上述现象，主要导致钽电容器失效的因素：容量、温度和浪涌。